科普视频 | 谈混合式IGBT—硅FRD的安全问题限制IGBT的开通速度

發表時間:2024-01-16 17:38
图片

传统电力电子应用中,IGBT的续流二极管一般以硅基FRD(快恢复二极管)为主,而硅基FRD的性能限制了IGBT的开通和关断行为的潜力,对开关损耗是很大的拖累。为此,基本半导体研发推出了一种混合式IGBT(即混合碳化硅分立器件)来解决这一问题,即在IGBT中把续流二极管用碳化硅SBD(肖特基二极管)替代硅基FRD,可使IGBT的开通与关断的潜力得以全部释放,开关损耗大幅降低

今天的“SiC科普小课堂”,基本半导体市场部总监魏炜老师将继续为大家带来混合式IGBT话题第二讲,由于硅的FRD的反向恢复行为对杂散电感的敏感度很高,会限制IGBT的开通速度,那么将硅的FRD替换为碳化硅肖特基二极管后,会有什么不一样的表现呢?今天的课堂将围绕这一点为大家展开,点击下方链接,去了解究竟!







生產製造
碳化矽功率元件
新聞動態
關於我們
廣東省深圳市南山區高新園區高新南七道國家工程實驗室大樓B座11
+86-755-22670439
+886 -981-107-999(台湾) info@basicsemi.com
chenhuiming@basicsemi.com(台湾)

關注微信公眾號

深圳基本半導體股份有限公司
品質管制