基本半导体主要依据MIL-STD/JEDEC、AQG324、IEC等标准，对所有半导体器件和模块产品进行可靠性认证；为满足特定应用或客户需要，基本半导体还支持制定额外的可靠性及质量认证实验。

      基本半导体拥有出众的静动态测试系统和高质量的可靠性验证能力。测试设备包括：芯片可靠性相关设备（HTRB/HTGB)、封装可靠性相关设备（H3TRB/TC/IOL/AC/HTC)、静动态测试系统相关设备（双脉冲测试系统/安捷伦/开尔文测控/曲线测试仪/浪涌测试系统）等，以实现对功率器件各项重要性能参数的全方位综合验证。